录用日期: 2026-04-01
摘要:
为了提高电子设备故障效果,提出融合BiSTM与改进注意力机制的电子设备故障自动诊断系统。该系统在数据采集时,采用低功耗微处理器和多传感器获取设备运行数据,引入抗干扰因子的自适应加权平均融合处理,保障数据可靠传输。在故障诊断环节,将BiSTM与改进注意力机制结合,BiSTM双向提取特征,捕捉设备动态变化;改进注意力机制通过故障特征增强因子定向加权关键特征,提升诊断准确率与泛化能力。同时引入多任务学习与动态学习率调整策略,增强模型性能与训练效率,最终输出电子设备故障诊断结果。测试结果显示,该系统数据采集可靠性高,数据失真程度低;拟合优度指标值均在0.92以上,能够满足电子设备故障诊断应用需求。