摘要:在总结自动测试系统发展现状的基础上，以目前国际上正在开展的下一代自动测试系统的研究为背景，分析了下一代自动测试系统的体系结构与标准，重点讨论了下一代自动测试系统开发所涉及的并行测试技术、合成仪器技术、仪器可互换技术、TPS可移植与互操作技术、智能测试诊断技术及测试诊断信息的表达等关键技术。希望以此能促进我国下一代通用自动测试系统的研制与开发。

摘要:并行测试拥有减少测试时间、降低测试成本的强大优势，正成为研究热点之一。首先详细分析了并行测试的基本概念，介绍了目前实现并行测试可以采用的两大类4种结构，对这4种结构各自的优缺点进行了比较。接着以多线程并行测试程序为例描述了并行测试程序中同步、异步和单线程的三种模型，最后重点对多线程并行测试实现中几个值得注意的重要问题进行了讨论。

摘要:对BP神经网络的结构及其训练算法进行了研究，并针对传统BP算法的缺陷，提出了一种采用L—M算法的改进BP神经网络。在此基础上建立了基于改进BP神经网络的非线性系统预测模型，并通过具体的仿真及实践结果验证了改进BP神经网络的有效性。