基于NI-VISA的晶圆测试探针台远程控制软件的设计与实现

Design and Implementation of Remote Control Software for Wafer-Test Prober Equipment Based on NI-VISA

摘要:

在晶圆级芯片测试过程中，晶圆探针台是测试正确进行的关键实施设备，探针台的使用与输出的map图等数据将直接反应晶圆（wafer）测试情况；目前探针台（prober）设备存在型号多、指令类型繁杂和必须现场操作的实际，增加了测试人员对测试方案开发以及量产测试监测的难度；为此提出了一种基于NI-VISA与网络地址转换（Network Address Translation NAT）内外网穿透的软件设计，通过将NI底层动态链接库嵌入到软件函数中，并集成为人机交互界面，实现测站终端与探针台快速连接控制，并通过快速反向代理（fast reverse proxy FRP）技术实现内外网NAT穿透，实现远程控制监控探针台；该软件设计在解决芯片测试方案远程调试困难的同时大幅缩短了测试方案开发周期；在提高了工作效率的基础上，减少了不必要的人力成本，有助于晶圆级芯片测试方案开发以及探针台设备监控的工作。

Abstract: