弹载计算机通用阻抗测试仪设计
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

(上海航天电子技术研究所,上海 201109)

作者简介:

何宴辉(1978-),男,河北冀州人,高级工程师,主要从事导弹弹上电子设备及相关测试技术的研究。[FQ)]

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Design of Universal Impedance Test Apparatus for Missile Computer System
Author:
Affiliation:

(Shanghai Aerospace Electronic Technology Institute, Shanghai 201109, China )

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    针对弹载计算机类产品在出厂交付和故障排除中信号阻抗需要高效测试的要求,文章描述了一种通用阻抗测试仪的实现方法;利用ARM微处理器来控制继电器矩阵切换信号点,并通过配置不同的上位机软件实现了多品种弹载计算机产品的阻抗自动测试,提高了阻抗测试效率,同时避免了人工测试容易误操作的问题;经过某型号弹载计算机试用,该测试仪能够将阻抗测试时间缩短到人工测试的1/9,且全程测试无错误,达到了弹载计算机信号阻抗快速可靠测试的目的。

    Abstract:

    For the efficient test requirements of signal impedance in delivery inspection or failure recovery for missile computer, article describes an universal impedance test implementation. Based on relay matrix and software configuration, we realize impedance automatic testing for multiple missile computer systems, which improves testing efficiency and avoids errors in manual measurement . By some missile computer trial, test time was shortened at 1/9 relative to manual measurement and high efficiency reliable test objectives were achieved.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

何宴辉,彭博.弹载计算机通用阻抗测试仪设计计算机测量与控制[J].,2015,23(9):3251-3253.

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2015-07-21
  • 最后修改日期:2015-07-31
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2015-10-08
  • 出版日期:
文章二维码