一种金融双界面卡可测试性设计研究
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(北方工业大学 理学院,北京 100144)

作者简介:

安艳伟(1969-),女,河北省人,实验师,主要从事电路测试与可测试性方向研究。[FQ)]

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Testability Design for Dual Interface Financial IC Card
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(College of Science,North China University of Technology,Beijing 100144,China)

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    摘要:

    由于安全性好,存储容量大等方面的优点,金融IC卡代替传统的磁条卡已经成为一种必然趋势;由于电路的复杂性,在金融卡的设计过程中必需注意可测试性设计;文章对一种金融双界面卡进行可测试性设计,主要关注嵌入式存储器、振荡器电路和非接触模拟前端电路的可测试性设计,在进行理论分析的基础上提出测试结构,并对电路进行设计;最终基于V777系统对流片以后的金融双界面卡进行测试,测试结果表明本设计具有很好的功能。

    Abstract:

    Duo to the merits of security and large memory capacity it is an inexorable trend that the financial IC card takes the palace of magnetic stripe card. For the complicated circuits testability design must be considered during the design of financial IC card. In this paper it introduces the testability design for a financial IC card,it presents the testability design of embed memory,OSC and analog front end circuits,after analyzing relative theory it proposes the test structure and design the circuits. Finally,it measures the chip of financial IC card with the equipment of V777,the test results shows the testability design is suitable for this IC card. 

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

安艳伟,戴澜,郑晓亮.一种金融双界面卡可测试性设计研究计算机测量与控制[J].,2015,23(7):2327-2328, 2336.

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  • 在线发布日期: 2015-07-31
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