基于ECC校验算法的记录器设计
DOI:
作者:
作者单位:

(1.中北大学 电子测试国家重点实验室; ;2.仪器科学与动态测试教育部重点实验室, 太原 030051)

作者简介:

杜东海(1989),男,四川巴中人,硕士生,主要从事数据存储系统方向的研究。

通讯作者:

中图分类号:

TH99

基金项目:


Design of Storage Device with Error Checking and Correction
Author:
Affiliation:

(1.State Key Laboratory for Electronic Measurement Technology;2.Ministerial Key Laboratory of instrumentation Science & Dynamic Measurement, North University of China, Taiyuan 030051,China)

Fund Project:

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    摘要:

    鉴于K9MDG08U5M在存储过程中出现的错“位”现象,提出利用ECC算法对数据进行校验和纠错。由于该款NAND FLASH一页数据出现的错“位”现象有时不止一位,而一般的ECC算法其纠错能力只有1 bit/4 kB,故一种纠错能力更强的新型算法将被设计和实现;该新型算法具有8 bit/4 kB的纠错能力和16 bit/4 kB的检错能力,且已成功应用于某数据采集存储系统中。

    Abstract:

    In despite of the NAND FLASH such as K9MDG08U5M is taken as the most reliable storage medium, there is still little probability of single bit error. To detect and correct the error, an Error Checking and Correction(ECC) algorithm is designed and implemented. According to our experiment, the greater probability of bit error is occurred by this FLASH. So the traditional ECC algorithm whose correcting ability is 1bit/4kB cannot achieve the task. In the paper, an algorithm with greater correcting ability is discussed. This algorithm is applied successfully to the storage device, whose correcting ability is 8bit/4kB and justifying error ability is 16bit/4kB.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

杜东海,李锦明,程龙,丁宁.基于ECC校验算法的记录器设计计算机测量与控制[J].,2014,22(10):3288-32893300.

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  • 在线发布日期: 2015-01-15
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